奥泰斯（OPTEX）激光位移传感器CD33系列
经济型位移传感器
● CD33-L正反射型传感器适用于高反射性透明物体检测，提供RS422通信型。
● 使用UQ1-02可轻松与三菱PLC进行通信，无需I/F或阶梯程序。
● 内置模拟输出（4-20mA或0-10V）和2个开关量输出，无需连接控制器独立工作。
● 测量玻璃厚度
CD33-L□□正反射型传感器可检测玻璃表面，也可测量玻璃的厚度。
● 数字亚像素处理
采用数字亚像素处理技术，可以将1个像素细分成65536个亚像素（256×256），使其线性精度比传统位移传感器
提高了2倍以上。
● 高精度感光度修正
高分辨率的电子快门速度为采样周期的1/485，因此有助于确保稳定的受光量峰值状态，自动优化受光量，
即使是不稳定表面亦能保持稳定检测。
● 模拟量电流/电压输出独立选择
传统传感器设定比较耗时，操作键繁多，使用起来相当复杂。而CD33系列将模拟量电压与模拟量电流输出
独立成两种型号，方便设定与使用。
● 适合安装在机械手臂上工作
结构轻巧紧凑，仅重65g，*适合安装在机械手臂上。
防护等级：IP67，高效防水。
● 双通道输出可独立设定测量范围
高精度比较器输出*小可识别12μm的差异（使用CD33-30型），滞后现象仅为0.15% F.S. 。
● 远程输入功能—多功能输入（MF）
MF远程输入线可实现激光关闭、外部示教、保持功能、单脉冲输入等功能。
● CD33连接三菱MELSEC-Q系列PLC时所需的控制单元—UQ1系列
UQ1-02可将CD33系列感应头与三菱MELSEC-Q系列PLC直接连接，无需编写通信程序，
UQ1亦可自动设定CD33感应头。
基板的平整度检测
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基板组件的高度检测
检测橡胶板间的接缝
建材板的厚度测量
检测玻璃板厚度测量及遮罩板的高度测量（正反射型）
测量曝光设备上的曝光头的高度（正反射型）
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